logo

logo

logo

logo

logo

اختبار المواد

اختبار مواد

Material testing - Essais de matériaux



اختبار المواد

 

تحديد الشكل بانعراج الأشعة وانتثارها structure determination by diffraction and scattering تتمايز المواد فيما بينها من حيث التركيب والبنية بالمواصفات التالية
تقنيات إصدار الأشعة السينية تقنيات اختبار المواد بالتصوير المجهري imaging-microscopy techniques
أطياف الإصدار الإلكتروني electron emission spectroscopies تحضير العينات
  اختبار المواد باستعمال الحزم الإلكترونية electron beam instruments

 

 

 

يتضمن المفهوم العام لاختبار المواد  material testing المبادئ والتقنيات والعمليات المستعملة لتحديد المواصفات الكمية والكيفية المميزة للمادة، ويُقصد منه على وجه الدقة خواص المواد، ويشمل:

-التركيب الكيميائي وشكل البنية (التضاريس والحبيبات) في المستوى النانوي والميكروي، وتوصيف السطوح والسطوح البينية.

- المواصفات المختلفة (الميكانيكية، الحرارية، الكهربائية، المغنطيسية، الضوئية).

- الأداء (التأكّل، الاهتراء، التعب، التفاعل البيولوجي، التفاعل مادة – بيئة).

الشكل (1) التصنيف العام للمواد

تصنَّف المواد (الشكل1) وفقاً لمنشئها (طبيعي أو صنعي) ووفقاً لتركيبها الكيميائي (عضوي أو لاعضوي)، ويشمل ذلك ما هو معروف من الأشكال المختلفة للمادة من معدن أو خزف أو مواد مركبة أو بوليمرات أو مواد طبيعية، في حين يمكن أن تكون المادة من الناحية الفيزيائية متبلورة أو غير متبلورة.

تتمايز المواد فيما بينها من حيث التركيب والبنية بالمواصفات التالية:

الطبيعة الذرية: هي العناصر الذرية من الجدول الدوري التي تشكل البنية الكيميائية للمادة.

الروابط الذرية: تتناول نوع الترابط الإلكتروني بين عناصر المادة، وتُقسم تجريبياً إلى الأنواع التالية:

- الروابط الإيونية بين العناصر الكيميائية للمادة التي تنجم عن تفاوت في مستوى الكهرسلبية، وتنشأ من انتقال إلكتروني ينجم عنه إيون سالب anion أو إيون موجب cation. وتكون هذه الروابط ذات طبيعة كهربائية بين عناصر المادة، كمادة الملح.

- الروابط المتكافئة المتشكلة بين العناصر الكيميائية للمادة ذات مستوى كهرسلبي متشابه، حيث يتشارك الإلكترون بين عنصرين أو أكثر من عناصر المادة، كمادة الخشب.

- الروابط المعدنية تتشكل بين العناصر ذات الكهرسلبية المنخفضة، حيث يكون ارتباط الإلكترون بالنواة ضعيفا؛ً إذ تُعدّ ذراتها إيونات موجبة تسبح في بحر من الإلكترونات.

روابط ڤاندرڤالس van der Waals تتشكل نتيجة استقطاب المدارات الإلكترونية للعناصر في المادة، كالماء مثلاً.

الشكل الفراغي للبنية: الترتيب البلوري أو غير البلوري لعناصر المادة.

الحبيبات: تُجمع البلورات المتماثلة في المادة بعضها مع بعض، ويمكن أن تتكون المادة من مجموعة حبيبات.

الأطوار: التركيب المتجانس للمادة من حيث البنية الكيميائية والشكل الفراغي.

العيوب البلورية: الانحراف عن الشكل المثالي المتوقع للمادة، وتتضمن العيوب النقطية ( فقد ذرة أو زيادتها ) والانخلاعات و حدود الحبيبات وتكهف المادة.

البنية المكروية: التجمع المكروي للحبيبات والأطوار والعيوب البلورية وحدود الحبيبات. يضاف إلى ذلك كله أثر السطوح والسطوح البينية ومواصفاتها.

تستخدم لتحديد بنية المادة وخواصها وقياس مواصفاتها تقنيات تقليدية وأخرى متقدمة.

وثمة خمسة اختبارات رئيسة تقليدية هي:

1ـ الاختبارات الميكانيكية: تشمل اختبارات الشد والضغط ، واختباري القص واللي السكونيين ، واختبار قابلية السحب، واختبار الصلابة ، واختبار الصدم ، واختبار مقاومة التصدع ، واختبار تغير الأبعاد والكلال (التعب).

2ـ اختبارات الخصائص الحرارية: تشمل الناقلية الحرارية والحرارة النوعية والتمدد الحراري.

3ـ اختبارات الخصائص الكهربائية.

4ـ اختبارات التلف: تشمل التأكل و الإشعاع والتلف البيولوجي.

5 ـ الاختبارات اللاتخريبية.

أما الاختبارات التقنية المتقدمة، فتشمل إحدى عشرة تقنية، تُستَعمل فيها حزم الإلكترونات أو الفوتونات أو الإيونات مسابرَ للاختبار وتسمى الحزم الفاحصة. تُسلّط هذه الحزم على المادة فتتفاعل معها، وينتج من تفاعلها تغيرات في مواصفات الحزم الفاحصة كالطاقة أو الشدة أو زاوية التوزع، أو تنتج منه حزم جديدة من الإلكترونات أو الفوتونات أو الإيونات تصدرها المادة. ويمكن التوصل إلى مواصفات المادة المُختبرة لدى قياس التغيرات الحاصلة على الحزم الفاحصة أو الحزم الصادرة عن المادة، وتحليل النتائج.

تقنيات اختبار المواد بالتصوير المجهري imaging-microscopy techniques

تُستعمل المجاهر لاختبار المواد الصلبة والمائعة وأحياناً السائلة بهدف تحديد بنيتها وسطحها وحجوم حبيباتها والتركيب الكيميائي السطحي، إضافة إلى توصيف المادة ضوئياً في بعض الحالات.

ثمة أربع تقنيات لاختبار المواد بالمجاهر، هي:

1ـ الفحص المجهري الضوئي  light microscopy

2ـ الفحص المجهري بالماسح الإلكتروني  scanning electron microscopy (SEM).

3ـ الفحص المجهري بالماسح النفقي والماسح بالقوى  scanning tunneling/scanning force microscopy (STM and SFM).

4ـ الفحص المجهري الإلكتروني بالنفاذ  transmission electron microscopy (TEM).

الشكل (2) صورة للمجهر ذي الماسح الإلكتروني
 
الشكل (3) مبدأ عمل المجهر ذي الماسح الإلكتروني

إن الهدف الرئيسي وليس الوحيد للتقنيات الأربع السابقة هو تكبير صورة المادة. أما المواصفات التي يمكن كشفها باستعمال كلٍّ من هذه التقنيات ومستلزمات تحضير العينات فهي كما يلي:

1ـ الفحص المجهري الضوئي: يعطي المجهر الضوئي العادي معلومات عن شكل المادة و أبعادها وتضاريس السطح، ويمكن للعين البشرية أن ترى من الطيف الكهرطيسي أطوال الموجات التي تقع في المجال المرئي فقط، وتراوح بين 400 و 700 نانومتر. أما المواصفات الأساسية التي تحدد قدرة أي مجهر على فحص المواد فهي قيمة فتحة عدسته العددية  numerical aperture (NA)، وتُعرَّف على النحو التالي:

  NA=nSin (AA/2)

 حيث n قرينة انكسار الوسط الفاصل بين العينة والعدسة الأولى في المجهر، AA هي الفتحة الزاوية angular aperture للعدسة الجسمية والقيمة النظرية العظمى لفتحة العدسة هي 1.0. أما القيمة العظمى العملية فهي 0.95، ويمكن الحصول على قيم أعلى للفتحة (حتى 1.4) بغمس العدسات الجسمية في زيت خاص.

تتعلق القيمة النظرية العظمى للتمييز    resolving power (r)  (قيمة التكبير الحدية أو العظمى) في أي مجهر بطول موجة الضوء λ المستعمل والفتحة العددية، وتوضح ذلك العلاقة التالية:

r = λ/(2NA)

ولدى استعمال الضوء الأبيض تكون قيمة طول الموجة  λ=0.55µm.

وثمة نوع متقدم من هذه المجاهر يسمى مجهر الضوء المستقطب (يستخدم ضوءاً مستقطباً بدلاً من الضوء الأبيض)، يمكنه أن يحدد مواصفات إضافية للمادة منها:

* تغيرات اللون color refracted or transmitted.

* تشتت قرائن انكسار الضوء dispersion of refractive indices.

* النفوذية الضوئية transparency or opacity.

* الانتثار الضوئي dispersion staining color.

* التلون pleochroism.

* التباعد الهدبي في التداخل الضوئي birefringence.

* مؤشر التطاول  sign of elongation.

* زاوية التعمية  extinction angle.

* التألق الضوئي  fluorescence.

* درجة الانصهار  melting point.

* درجة البلمرة  polymorphism.

* درجة البلورة  degree of crystallinity.

* القساوة الميكروية  microhardness.

* نقطة تلاقي الأطوار الثلاثة  eutectics.

تحضير العينات:

في الحالة العامة يكفي تنظيف شريحة مناسبة من المادة المراد اختبارها بمواد لا تضر بها، وقد توضع تلك الشريحة في بعض الحالات في سائل قرينة انكساره معلومة لتحديد مواصفاتها الضوئية . أما إذا كانت المادة معدنية أو صلبة فإنها تُدمج في حامل من البوليمرات لتجلخ وتلمع وتنمش وتُجفف قبل فحصها بالمجهر.

1ـ الفحص المجهري بالماسح الإلكتروني: يستعمل المجهر الماسح الإلكتروني، (الشكل2)، للحصول على صور لسطح المادة أدق من تلك التي يمكن الحصول عليها باستعمال المجهر الضوئي، إذ تصل دقته إلى بضعة نانومترات، ويمكن ضبط نسبة تكبيره بين 10X إلى 300,00. لا يعطي هذا المجهر معلومات عن جغرافية السطح فقط، وإنما يعطي معلومات عن التركيبة الكيميائية للمادة المجاورة للسطح أيضاً.

مبدأ العمل: تركز حزمة إلكترونات في الخلاء -تراوح طاقتها بين عدة مئات إلكترون ڤولط  (eV) و 30كيلو إلكترون فولط  (keV) - على السطح المراد فحصه، فتحدث تأثرات عند ولوج الإلكترونات في السطح، ينجم عنها إصدار إلكترونات وفوتونات تُجمع بمحسات خاصة (لواقط الإشارة) وتُحلَّل لاستخلاص معلومات تفيد في رسم صورة للسطح وعرضها على شاشة الإخراج، (الشكل 3).

تحضير العينات: يتطلب فحص العينات بالمجهر ذي الماسح الإلكتروني مواءمة العينة للخلاء. ففي حال كانت العينة ناقلة؛ تكفي مواءمة حجمها لوضعها على الحامل. أما إذا كانت العينة عازلة، فيجب طليها بمادة ناقلة رقيقة (لا يتجاوز سمكها 10 nm) من الكربون أو الذهب.

1ـ الفحص بالمجهر ذي الماسح النفقي والماسح بالقوى: لدى استعمال أحد هذين المجهرين يمكن الحصول على صور دقيقة ثلاثية الأبعاد لسطح العينة من مرتبة أبعاد الذرات. يمكن فحص أسطح العينات الصلبة كافة بهذين المجهرين (في الهواء أو في السائل أو في الخلاء)، وتراوح نسبة التكبير من مرتبة أبعاد الذرات إلى 250X250µm.

2ـ الفحص المجهري الإلكتروني بالنفاذ: يعطي هذا المجهر -إضافة إلى الصورة الجانبية لمقطع العينة- معلومات عن الانعراج في العينة، (الشكل4). وتبلغ دقة التصوير الجانبي لهذا المجهر 0.2nm.

مبدأ العمل: تُستعمل في المجهر الإلكتروني بالنفاذ TEM حزمة إلكترونات مركزة البؤرة (قطرها أقل من 1µm) تُسقَط على شريحة العينة الرقيقة (يقل سمكها عن 200 nm)، للحصول على المعلومات بتحليل الجزء المنحرف من الحزمة عن العينة والجزء النافذ منها. يُعدّ طول الموجة  λ =0.0037nm لحزمة إلكترونية طاقتها 100keV أقصر بكثير من طول موجة الضوء أو الـ X-ray أو  النترونات المستعملة في تقانات الفحص الأخرى.

تحضير العينات: تُعدّ هذه المرحلة أصعب مرحلة في طريقة الفحص بالمجهر الإلكتروني بالنفاذ TEM؛ إذ يجب تحضير شريحة رقيقة جداً من العينة، ويحتاج ذلك إلى خبرة ودراية.

     انعراج الأشعة عن بلورة فلم رقيق من الحديد متجهة (001) ومحور البلورة موازٍ لاتجاه حزمة الفحص (a)   الشكل (4)ء 
        pd2Si انعراج الأشعة عن فلم متعدد البلورات من (b)      

اختبار المواد باستعمال الحزم الإلكترونية electron beam instruments

الشكل (5) بنية الألماس كما توضحها صورة مأخوذة بتقنية الإصدار المهبطي
  تبين الأبوان الأطوال الموجية للتألق
   cl
 
الشكل (6) انعراج الأشعة السينية لفحص البنية البلورية للمادة
 
الشكل (7) انعراج الأشعة السينية عن عينة ذرور من مادة متبلورة، توضح القمم طبيعة التوجه البلوري في المادة
 
 (BE) الشكل (8) طاقة ارتباط الإلكترون في ذروته 
التقريبية للإلكترونات في الطبقات الذرية  
Z
المختلفة للمواد كتابع للعدد الذري   
 
XRFالشكل (9) طريقة التحليل بتألق  الأشعة السينية  

تختص هذه التقنية بالتحليل التركيبي لعينة باستعمال مسابر إلكترونات، ومن ميزاتها أنها تحلِّل بدقة موضعية عالية.

تتأثر الحزمة الإلكترونية الواردة إلى سطح العينة بها مولدةً مجموعة من الإشارات المفيدة الممكن قياسها وتحليلها لاستنتاج المعلومات المطلوبة. تنقسم تجهيزات الحزم الإلكترونية وفق نوع الإشارة المحللة إلى:

1ـ مطياف تشتت الطاقة  energy dispersive spectroscopy (EDS)، ومطياف تشتت طول الموجة  wavelength dispersive spectroscopy (WDS)، وتألق الأشعة السينية  X-ray fluorescence spectroscopy (XRF)، وكلها تحلل إصدارات الأشعة السينية.

2ـ  مطياف فقد الطاقة  electron energy loss spectroscopy (EELS)، يحلل فقد الطاقة في الحزمة الواردة نتيجة التصادمات غير المرنة.

3ـ الإصدار المهبطي  cathodoluminescence (CL) يحلِّل إصدارات الأشعة المرئية أو الأشعة فوق البنفسجية  UV.

وكل هذه التقنيات - باستثناء تقنية الإصدار المهبطي  (CL) - تمكِّن من إجراء تحليل كمّي للمادة (نسب العناصر الداخلة في التركيب).

الإصدار المهبطي: يعتمد قياس الضوء الصادر عن المادة على رجمها بالإلكترونات، وينتج من ذلك تألق المادة باسترخاء الإلكترون من مستوٍ طاقي عالٍ إلى مستوٍ طاقي منخفض. وهي تقنية تقليدية في أنابيب الأشعة المهبطية أو شاشات المدافع الإلكترونية  cathode- ray tube (CRT). وقد استُعملت هذه الطريقة للمواد المتألقة - بدقة فراغية تبلغ أقل من 1µm- في تحديد المواصفات الإلكترونية البنيوية للمواد (العيوب البنيوية والكثافة والشوائب، والحصول على معلومات عن أشكال المدارات الإلكترونية، وقياس نسبة الأشابة، وتحليل الإجهادات، ومراقبة انزلاق العيوب، وقياس عمق الزرع الإيوني). والمثال على ذلك بنية الألماس الموضحة في (الشكل 5).

تحديد الشكل بانعراج الأشعة وانتثارها structure determination by diffraction and scattering

ثمة ست تقنيات يمكن بوساطتها الحصول على معلومات عن التركيبة البنيوية للمادة على السطح وفي السطوح البينية وللأفلام الرقيقة وهي:

1ـ انعراج الأشعة السينية  X-ray diffraction (XRD).

2ـ امتصاص الأشعة السينية الممدد في الأشكال الدقيقة  extended X-ray absorption fine structure (EXAFS).

3ـ امتصاص الأشعة السينية الممدّد في السطوح في الأشكال الدقيقة  surface extended X-ray absorption fine structure (SEXAFS). وامتصاص الأشعة السينية الحقل القريب في الأشكال الدقيقة  near edge X-ray absorption fine structure (NEXAFS).

4ـ الإصدار الضوئي الإلكتروني للأشعة السينية  X-ray photoelectron (XPD) وانعراج أوجيه  Auger diffraction (AES)..

5ـ انعراج الإلكترونات المنخفضة الطاقة  low-energy electron diffraction (LEED).

6ـ انعكاس انعراج الإلكترونات ذات الطاقة المنخفضة  reflection low-energy electron diffraction (RLEED).

انعراج الأشعة السينية: تُعدّ تقنية انعراج الأشعة السينية التقنية الأقوى والأوسع انتشاراً لتحديد البنية البلورية للمادة ولقياس المواصفات الشكلية (إجهاد، حجم الحبيبات، التوجهات المفضلة في المادة وأشكال العيوب وغير ذلك)، كما تُستعمل لقياس سِمْك الأغشية الرقيقة.

مبدأ العمل: تُعرَّض المادة المراد فحصها لحزمة من الأشعة السينية لتنعرج عليها (عن المستويات البلورية ذات التوجه  [hkl] لبنيتها) بزاوية 2θ، كما يبين الشكل(6). تُقاس شدة الأشعة المنعرجة مع تغير زاوية الانعراج.

إن طاقة الأشعة السينية التقليدية هي E=6-17keV، وتوافق طول موجة قدره λ=0.7-2 Å. ففي حال كانت البنية البلورية مكعبة وثابت الشبكة فيها ao، والمسافة بين المستويات البلورية dhkl، فإن هذه الطاقة تساوي:

 

أي إن موجة الأشعة السينية ذات الطول λ تنعرج انعراجاً بناءً (في شدة الأشعة المقاسة أعظمية)، في حال تحقق قانون براغ  Bragg’s law التالي:

يبين الشكل(7) مثالاً عن النتائج التي يمكن الحصول عليها بانعراج الأشعة السينية عن المادة.

أطياف الإصدار الإلكتروني electron emission spectroscopies

تعتمد طريقة تحديد أطياف الإصدار الإلكتروني على قياس توزع طاقة الإلكترونات الصادرة عن المادة، وهذا ما يعطي تحليلاً كيميائياً ذرياً للمادة. تُعدّ هذه الطريقة من طرائق فحص السطوح. وهي تتحسس التغيرات في سِمْك السطح من مرتبة طبقة ذرية واحدة، و لها أربع تقنيات هي:

1ـ  المطياف الضوئي الإلكتروني للأشعة السينية  X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).

2ـ المطياف الضوئي الإلكتروني للأشعة فوق البنفسجية  ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS).

3ـ  مطياف إلكترونات أوجيه  (AES).

4ـ  انعكاس الإلكترونات في مطياف فقد الطاقة  (REELS).

1ـ المطياف الضوئي الإلكتروني للأشعة السينية: يُعرف كذلك بالمطياف الإلكتروني للتحليل الكيميائي  electron spectroscopy for chemical analysis (ESCA)، وهي تقنية مبدأ عملها مشابه لمبدأ عمل تقنية المطياف الضوئي الإلكتروني للأشعة فوق البنفسجية  UPS، غير أنها تستعمل الأشعة السينية اللينة (1486eV)  الصادرة عن مصعد من الألمنيوم. يمكن بهذه التقنية تحليل جميع المواد - ما عدا الهدروجين والهيليوم - لعينات أبعادها 1cmX1cm على عمق 2 إلى 25 طبقة ذرية. وتُستعمل في الصناعة والبحث العلمي حيث يكون المطلوب معرفة التركيب الكيميائي للسطح أو الطبقات السطحية.

مبدأ العمل: يكفي تعريض الذرة لفوتون مناسب عالي الطاقة (قصير الموجة) لتأيينها، وتعتمد الطاقة الحركية للإلكترون المتحرر KE  (الإلكترون الضوئي) على طاقة الفوتون وفق العلاقة:

 KE=hν-BE

حيث BE طاقة ارتباط الإلكترون المتحرر بذرته. ولما كانت طاقة الفوتون معلومة، يكتفى بقياس قيمة طاقة الإلكترون المتحرر KE لتحديد BE، ومن ثَمَّ تحديد نوع المادة. يوضح الشكل (8) طاقة ارتباط الإلكترونات بذراتها وفق المدارات المختلفة.

2 - مطياف إلكترونات أوجيه: تُستعمل هذه التقنية لتحديد نوع العناصر المتوفرة في المادة (عناصر الجدول الدوري كلها ما عدا الهدروجين والهيليوم)، وكذلك لتحديد نوع الروابط الكيميائية بين الذرات السطحية وقوتها أحياناً. وقد تُستعمل هذه التقنية  في حالات كثيرة مع تقنيات أخرى في آن واحد. تستعمل حزمة إلكترونات كمسبر لسطح العينة، ويقاس تشتت طاقة الإلكترونات الثانوية المتحررة من المادة، ويمكن بوساطتها تحليل طاقات إلكترونات أوجية فقط من بين تلك الإلكترونات الثانوية.

تقنيات إصدار الأشعة السينية

هي ثلاث تقنيات:

1- تألق الأشعة السينية  (XRF).

2- التحليل بالانعكاس الكلي لتألق الأشعة السينيةtotal reflection X-ray fluorescence (TXRF).

3- التحفيز الجسيمي لإصدار الأشعة السينية            particle induced X-ray emission (PIXE).

تعتمد هذه التقنيات على تحليل إصدار المادة من الأشعة السينية لإجراء تحليل كمي للعناصر في المادة.  وتستعمل التقنيتان الأوليان حزم أشعة سينية لتحفيز الإصدار، في حين تعتمد التقنية الثالثة على الإيونات لتحفيزها.

1- تألق الأشعة السينية: يجري التحليل بهذه الطريقة (الشكل9 )، بتعريض المادة لحزمة أشعة سينية عالية الاستطاعة، تسبّب إصدار أشعة سينية ثانوية (متألقة) من مادة سطح العينة المدروسة (جميع المواد ذات Z>3)، وبتحليل هذه الأشعة الثانوية يمكن تحديد التركيب الكيميائي لسطح مادة العينة. تُطبَّق هذه التقنية في التحليل الكيميائي للمعادن والزجاج والسيراميك.

2- التحليل بالانعكاس الكلي لتألق الأشعة السينية: هي تقنية تشابه التقنية السابقة مع فارق أن زاوية ورود الأشعة السينية المحفِّزة للإصدار هنا صغيرة جداً (أجزاء بالألف من الراديان) تحت زاوية الانعكاس الكلي.

الشكل (10) طريقة تحريض إصدار الأشعة السينية بالجسيمات 

3- التحفيز الجسيمي لإصدار الأشعة السينية  : (PIXE)في هذه الطريقة (الشكل10)، يُعرّض الجسم المدروس لحزمة من الجسيمات (بروتونات أو إيونات) طاقتها كافية لتحريض تفاعل جسيم مع المادة وإصدار أمواج كهرطيسية (بأطوال موجات الأشعة السينية) من الجسم المدروس أو العينة المختبرة (دهانات، لوحات فنية، لقى أثرية، أو غيرها)، وبتحليل الأشعة المنبعثة من الجسم والمميزة له، يمكن تحديد البنية الكيميائية لسطح الجسم وبعض المواصفات الفيزيائية الأخرى. تستعمل هذه الطريقة عادة في الأبحاث الجيولوجية والدراسات الأثرية لتحديد عمر المواد، وهي طريقة لاتخريبية متقدمة اكتُشفت في عام 1970 على يد العالم السويدي سڤين جوهانسن Sven Johansson.

 

محمد علي السيد علي

 

 

مراجع للاستزادة:

- M. A. AlSayed Ali, Mécanisme ionique de formation des nanoparticules, editions universitaires européennes, France, 2011.

- M. A. Alsayed Ali, C-Nanoparticles Laser Desorption Ionization to Produce Heavy Cations, LAMBERT, Germany, 2010.

- C. Horst, S. Tetsuya, S. Leslie (Eds.), Springer Handbook of Materials Measurements Methods, Springer, 2006.

- Zhong Lin Wang, Characterization of Nanophase Materials, Wiley, 2000.

 

 


التصنيف : الاختبارات
النوع : الاختبارات
المجلد: المجلد الأول
رقم الصفحة ضمن المجلد : 382
مشاركة :

اترك تعليقك



آخر أخبار الهيئة :

البحوث الأكثر قراءة

هل تعلم ؟؟

عدد الزوار حاليا : 520
الكل : 29645476
اليوم : 25486